BS ISO 24173-2009 微束分析.使用电子反向散射体衍射的方位测量准则
作者:标准资料网 时间:2024-05-19 01:38:53 浏览:9639
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【英文标准名称】:Microbeamanalysis-Guidelinesfororientationmeasurementusingelectronbackscatterdiffraction
【原文标准名称】:微束分析.使用电子反向散射体衍射的方位测量准则
【标准号】:BSISO24173-2009
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2009-10-31
【实施或试行日期】:2009-10-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析;化学分析和测试;化学成分;晶体学;晶体;定义;测定;电子束;解释;测量;测量精度;测量仪器;测量技术;方法;分析方法;方位;抽样方法;试验报告;试样;测试;X射线衍射;X射线荧光;X射线分光仪
【英文主题词】:Analysis;Chemicalanalysisandtesting;Chemicalcomposition;Crystallography;Crystals;Definitions;Determination;Electronbeams;Interpretations;Measurement;Measuringaccuracy;Measuringinstruments;Measuringtechniques;Methods;Methodsofanalysis;Orientation;Samplingmethods;Testreports;Testspecimens;Testing;X-raydiffraction;X-rayfluorescence;X-rayspectrometer
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:54P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:微束分析.使用电子反向散射体衍射的方位测量准则
【标准号】:BSISO24173-2009
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2009-10-31
【实施或试行日期】:2009-10-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析;化学分析和测试;化学成分;晶体学;晶体;定义;测定;电子束;解释;测量;测量精度;测量仪器;测量技术;方法;分析方法;方位;抽样方法;试验报告;试样;测试;X射线衍射;X射线荧光;X射线分光仪
【英文主题词】:Analysis;Chemicalanalysisandtesting;Chemicalcomposition;Crystallography;Crystals;Definitions;Determination;Electronbeams;Interpretations;Measurement;Measuringaccuracy;Measuringinstruments;Measuringtechniques;Methods;Methodsofanalysis;Orientation;Samplingmethods;Testreports;Testspecimens;Testing;X-raydiffraction;X-rayfluorescence;X-rayspectrometer
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:54P;A4
【正文语种】:英语
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